3.1 存储器概述与主存储器
存储器的分类与层次结构、性能指标,SRAM 与 DRAM 的原理与刷新,只读存储器,以及双端口 RAM 与多模块存储器。
存储器的分类
| 分类依据 | 类别 |
|---|---|
| 层次 | 主存储器(内存)、辅助存储器(外存)、高速缓冲存储器 Cache |
| 存储介质 | 磁表面存储器(磁盘、磁带)、半导体存储器(SRAM、DRAM、Flash)、光存储器 |
| 存取方式 | 随机存取存储器 RAM(存取时间与位置无关)、只读存储器 ROM、顺序存取存储器 SAM(磁带)、直接存取存储器 DAM(磁盘:先随机找到区域,再顺序存取) |
| 信息的可保存性 | 易失性(断电丢失,如 RAM)、非易失性(ROM、磁盘、光盘、Flash) |
另外,破坏性读出是指读出数据后原信息被破坏(如 DRAM 的电容),需要紧跟一个再生操作。
存储器的性能指标
- 存储容量 = 存储字数 × 字长(如 1M × 8 位);
- 单位成本 = 总成本 / 总容量;
- 存储速度:
- 存取时间 :从启动一次存储器操作到完成该操作所经历的时间;
- 存取周期 :存储器进行一次完整的读写操作所需的全部时间,即连续两次独立访问存储器操作之间所需的最小时间间隔。存取周期 = 存取时间 + 恢复时间,所以 ;
- 主存带宽 :每秒从主存进出信息的最大数量(字/秒或位/秒)。
多级层次结构
在存储体系中,Cache 中的内容是主存中一部分内容的副本;主存中的内容是辅存中一部分内容的副本。
半导体随机存储器
SRAM 与 DRAM
| SRAM(静态 RAM) | DRAM(动态 RAM) | |
|---|---|---|
| 存储信息 | 双稳态触发器(6 管 MOS) | 电容(1 管或 3 管) |
| 破坏性读出 | 否 | 是(读后需再生) |
| 需要刷新 | 不需要 | 需要(电容电荷会泄漏,约 2 ms 内必须刷新一次) |
| 送行列地址 | 同时送 | 分两次送(行、列地址复用,地址线减半) |
| 运行速度 | 快 | 慢 |
| 集成度 / 功耗 / 价格 | 低 / 高 / 高 | 高 / 低 / 低 |
| 用途 | Cache | 主存 |
只读存储器 ROM
ROM 结构简单、位密度比可读写存储器高,且具有非易失性。种类有:掩模式 ROM(MROM)、一次可编程 ROM(PROM)、可擦除可编程 ROM(EPROM,紫外线擦除 UVEPROM / 电擦除 EEPROM)、闪存(Flash,可在线快速擦写,U 盘、SSD 都基于 Flash)。
双端口 RAM 与多模块存储器
为提高 CPU 访问存储器的速度,可以采用双端口 RAM(两个独立的端口同时访问同一存储器,同时对同一单元写时会冲突,需要”忙”信号仲裁)或多模块存储器。
多模块存储器分为单体多字存储器(每次读出多个字)和多体并行存储器:
- 高位交叉编址(顺序方式):高位地址表示体号,低位地址为体内地址。连续地址位于同一模块,只能串行访问,主要用于扩充容量;
- 低位交叉编址(交叉方式):低位地址为体号,高位地址为体内地址。连续地址分布在相邻的不同模块中,可以采用流水线方式并行存取。
交互演示多模块存储器:低位交叉编址的流水访问(存取周期 T = 4r)
低位交叉:地址的低 log₂m 位作为模块号,连续地址分布在不同模块中。总时间 = 11r(= T + (n−1)r = 11r,流水线式并行)。
即时练习
即时练习4 题
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- 1下列关于 DRAM 和 SRAM 的说法中,错误的是( )。
Ⅰ. SRAM 和 DRAM 都是易失性存储器 Ⅱ. DRAM 比 SRAM 速度快 Ⅲ. SRAM 常用作 Cache Ⅳ. DRAM 需要刷新,SRAM 不需要 - 2某存储器容量为 32K × 16 位,则( )。
- 3某容量为 256 MB 的存储器由若干 4M × 8 位的 DRAM 芯片构成,该 DRAM 芯片的地址引脚和数据引脚总数是( )。
- 4某计算机使用 4 体交叉编址存储器,假定在存储器总线上出现的主存地址(十进制)序列为 8005, 8006, 8007, 8008, 8001, 8002, 8003, 8004, 8000,则可能发生访存冲突的地址对是( )。
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